DDR3颗粒自动化测试分选设备

存储颗粒在封装完成到出货之间，要逐颗做短路测试与老化测试，再按结果分级。这道工序一旦靠人工上下料，问题往往是成串出现的：颗粒尺寸小、手工对位放偏，测试座接触不良造成误判；老化测试耗时长，人手搬运跟不上节拍；分级靠人眼记录，混料错料事后难以追溯。

思迈达 DDR3 颗粒自动化测试分选设备，把短路测试、老化测试与分级分选串成一条自动流程。设备以龙门结构机械手为核心执行单元，抓手由 8 个吸头组成、每个吸头可独立工作；CCD 视觉与三轴机械手精度均为 ±0.02mm，芯片放置精度 ≤±0.05mm；机台操作人力 ≤1 人，工作噪音 ≤65dB。

核心亮点

设备组成与工作流程

设备由取放治具升降机、tray 盘上下料机构、机器人取放料组件和电控系统集成而成。待测颗粒从 tray 盘进入，经视觉对位后送入测试座，完成短路与老化测试，再按判定结果分流到对应等级的料盘送出。

取放治具升降机

负责治具的升降与定位，为颗粒取放提供稳定基准面。升降行程与停顿位置由电控统一调度，保证每个测试循环的起止条件一致。

tray 盘上下料机构

tray 盘的自动送入与送出。测试与分选完成后，各等级颗粒按盘分流，不需要人工逐盘搬运与核对。批次边界靠料盘区分，不靠人记录。

机器人取放料组件

龙门结构机械手，抓手由 8 个吸头组成，负责颗粒在料盘与测试座之间的转运。每个吸头独立工作，可针对单个颗粒的测试状态单独动作：已出结果的先取走，未出结果的继续等。

电控系统

整机动作调度、测试流程控制与数据通讯。支持 TCP/IP、FTP 协议与生产服务器通讯，测试数据以 TXT 格式传输，可对接现有产线的数据链。

技术参数

以上参数以实物为准。外观、规格如有更改恕不另行通知。

适用场景

用于存储颗粒在封装完成后、出货前的短路测试与老化测试，并按测试结果把颗粒分到不同等级。适合需要逐颗留档、按等级分批交付的产线，也适合来料批次的抽检与全检。

设备占地 L1300 × W1400mm，2kW 电功率，气源 0.5–0.7MPa，常规车间环境即可落地，不需要单独的恒温恒湿间。

企业介绍

思迈达专注精密制造与自动化测试设备，为半导体、电子封装、新能源等行业提供设备与测试方案。公司拥有员工 170 多名，其中研发技术人员 35+，累计获得专利与软件著作权 80+ 项。总部位于深圳，并在苏州、武汉设有办事处和售后服务网点，为客户提供及时的本地化服务。