EMC封装成形常见缺陷及其对策-行星搅拌机
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  • 发布时间: 2018 - 04 - 18
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  • 发布时间: 2018 - 04 - 18
    ● 采用料片自动上料的方式,不会卡料,支架轻微变形亦不受影响;      ● 人工只需将料盒放置在载台上,按启动即可,减少用人及人员工作强度;      ● 效率大大提高,日产4K K 的 L E D 也只需1台设备即可;      ● 由于采用高精度光纤感应,减少了误操作;      ● 操作简单,设定的程序直接调用即可,单套程序可适用所有支架,无需培训。
  • 发布时间: 2017 - 07 - 05
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  • 发布时间: 2017 - 08 - 09
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  • 发布时间: 2017 - 07 - 06
    【产品简介】自转/公转的同时,配合高功率的真空泵,几秒至几分钟内将材料搅拌均匀,搅拌和抽真空同步完成。配备不同的夹具及杯子,能搅拌容量从几克至200克以内的材料,轻松应对试验到量产的全部要求。可存储10组数据(可定制),每组数据还可分5段来设置不同的时间、转速、真空度等参数,可应对大部分材料的搅拌脱泡要求。最高转速可达2500转,高粘度的材料也可完美地搅拌均匀。应客户要求,机台的部分功能可订制。图片及参数仅为一部分范例,详情欢迎咨询思迈达! 注:外观、规格如有更改恕不另行通知。本机非防爆规格,请不要搅拌对人体有危险或有害物质。 【搅拌效果图】

EMC封装成形常见缺陷及其对策

日期: 2018-07-20
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塑料封装以其独特的优势而成为当前微电子封装的主流,约占封装市场的95%以上。塑封产品的广泛应用,也为塑料封装带来了前所未有的发展,但是几乎所有的塑封产品成形缺陷问题总是普遍存在的,也无论是采用先进的传递模注封装,还是采用传统的单注塑模封装,都是无法完全避免的。相比较而言,传统塑封模成形缺陷几率较大,种类也较多,尺寸越大,发生的几率也越大。塑封产品的质量优劣主要由四个方面因素来决定:A、EMC的性能,主要包括胶化时间、黏度、流动性、脱模性、粘接性、耐湿性、耐热性、溢料性、应力、强度、模量等;B、模具,主要包括浇道、浇口、型腔、排气口设计与引线框架设计的匹配程度等;C、封装形式,不同的封装形式往往会出现不同的缺陷,所以优化封装形式的设计,会大大减少不良缺陷的发生;D、工艺参数,主要包括合模压力、注塑压力、注塑速度、预热温度、模具温度、固化时间等。

下面主要对在塑封成形中常见的缺陷问题产生的原因进行分析研究,并提出相应有效可行的解决办法与对策。

1.封装成形未充填及其对策

封装成形未充填现象主要有两种情况:一种是有趋向性的未充填,主要是由于封装工艺与EMC的性能参数不匹配造成的;一种是随机性的未充填,主要是由于模具清洗不当、EMC中不溶性杂质太大、模具进料口太小等原因,引起模具浇口堵塞而造成的。从封装形式上看,在DIP和QFP中比较容易出现未充填现象,而从外形上看,DIP未充填主要表现为完全未充填和部分未充填,QFP主要存在角部未充填。 未充填的主要原因及其对策:

(1)由于模具温度过高,或者说封装工艺与EMC的性能参数不匹配而引起的有趋向性的未充填。预热后的EMC在高温下反应速度加快,致使EMC的胶化时间相对变短,流动性变差,在型腔还未完全充满时,EMC的黏度便会急剧上升,流动阻力也变大,以至于未能得到良好的充填,从而形成有趋向性的未充填。在VLSI封装中比较容易出现这种现象,因为这些大规模电路每模EMC的用量往往比较大,为使在短时间内达到均匀受热的效果,其设定的温度往往也比较高,所以容易产生这种未充填现象。) 对于这种有趋向性的未充填主要是由于EMC流动性不充分而引起的,可以采用提高EMC的预热温度,使其均匀受热;增加注塑压力和速度,使EMC的流速加快;降低模具温度,以减缓反应速度,相对延长EMC的胶化时间,从而达到充分填充的效果。

(2)由于模具浇口堵塞,致使EMC无法有效注入,以及由于模具清洗不当造成排气孔堵塞,也会引起未充填,而且这种未充填在模具中的位置也是毫无规律的。特别是在小型封装中,由于浇口、排气口相对较小,所以最容易引起堵塞而产生未充填现象。对于这种未充填,可以用工具清除堵塞物,并涂上少量的脱模剂,并且在每模封装后,都要用**和刷子将料筒和模具上的EMC固化料清除干净。

(3)虽然封装工艺与EMC的性能参数匹配良好,但是由于保管不当或者过期,致使EMC的流动性下降,黏度太大或者胶化时间太短,均会引起填充不良。其解决办法主要是选择具有合适的黏度和胶化时间的EMC,并按照EMC的储存和使用要求妥善保管。

(4)由于EMC用量不够而引起的未充填,这种情况一般出现在更换EMC、封装类型或者更换模具的时候,其解决办法也比较简单,只要选择与封装类型和模具相匹配的EMC用量,即可解决,但是用量不宜过多或者过少。

2、封装成形气孔及其对策

在封装成形的过程中,气孔是最常见的缺陷。根据气孔在塑封体上产生的部位可以分为内部气孔和外部气孔,而外部气孔又可以分为顶端气孔和浇口气孔。气孔不仅严重影响塑封体的外观,而且直接影响塑封器件的可靠性,尤其是内部气孔更应重视。常见的气孔主要是外部气孔,内部气孔无法直接看到,必须通过X射线仪才能观察到,而且较小的内部气孔Bp使通过x射线也看不清楚,这也为克服气孔缺陷带来很大困难。那么,要解决气孔缺陷问题,必须仔细研究各类气孔形成的过程。但是严格来说,气孔无法完全消除,只能多方面采取措施来改善,把气孔缺陷控制在良品范围之内。

从气孔的表面来看,形成的原因似乎很简单,只是型腔内有残余气体没有有效排出而形成的。事实上,引起气孔缺陷的因素很多,主要表现在以下几个方面:A、封装材料方面,主要包括EMC的胶化时间、黏度、流动性、挥发物含量、水分含量、空气含量、料饼密度、料饼直径与料简直径不相匹配等;B、模具方面,与料筒的形状、型腔的形状和排列、浇口和排气口的形状与位置等有关;C、封装工艺方面,主要与预热温度、模具温度、注塑速度、注塑压力、注塑时间等有关。

在封装成形的过程中,顶端气孔、浇口气孔和内部气孔产生的主要原因及其对策:

(1)、顶端气孔的形成主要有两种情况,一种是由于各种因素使EMC黏度急剧-上升,致使注塑压力无法有效传递到顶端,以至于顶端残留的气体无法排出而造成气孔缺陷;一种是EMC的流动速度太慢,以至于型腔没有完全充满就开始发生固化交联反应,这样也会形成气孔缺陷。解决这种缺陷最有效的方法就是增加注塑速度,适当调整预热温度也会有些改善。

(2)、浇口气孔产生的主要原因是EMC在模具中的流动速度太快,当型腔充满时,还有部分残余气体未能及时排出,而此时排气口已经被溢出料堵塞,最后残留气体在注塑压力的作用下,往往会被压缩而留在浇口附近。解决这种气孔缺陷的有效方法就是减慢注塑速度,适当降低预热温度,以使EMC在模具中的流动速度减缓;同时为了促进挥发性物质的逸出,可以适当提高模具温度。

(3)、内部气孔的形成原因主要是由于模具表面的温度过高,使型腔表面的EMC过快或者过早发生固化反应,加上较快的注塑速度使得排气口部位充满,以至于内部的部分气体无法克服表面的固化层而留在内部形成气孔。这种气孔缺陷一般多发生在大体积电路封装中,而且多出现在浇口端和中间位置。要有效的降低这种气孔的发生率,首先要适当降低模具温度,其次可以考虑适当提高注塑压力,但是过分增加压力会引起冲丝、溢料等其他缺陷,比较合适的压力范围是8~10Mpa。

3、封装成形麻点及其对策

在封装成形后,封装体的表面有时会出现大量微细小孔,而且位置都比较集中,看卜去是一片麻点。这些缺陷往往会伴随其他缺陷同时出现,比如未充填、开裂等。这种缺陷产生的原因主要是料饼在预热的过程中受热不均匀,各部位的温差较大,注入模腔后引起固化反应不一致,以至于形成麻点缺陷。引起料饼受热不均匀的因素也比较多,但是主要有以下三种情况:

(1)、料饼破损缺角。对于一般破损缺角的料饼,其缺损的长度小于料饼高度的1/3,并且在预热机辊子上转动平稳,方可使用,而且为了防止预热时倾倒,可以将破损的料饼夹在中间。在投入料筒时,最好将破损的料饼置于底部或顶部,这样可以改善料饼之间的温差。对于破损严重的料饼,只能放弃不用。

(2)、料饼预热时放置不当。在预热结束取出料饼时,往往会发现料饼的两端比较软,而中间的比较硬,温差较大。一般预热温度设置在84-88℃时,温差在8~10℃左右,这样封装成形时最容易出现麻点缺陷。要解决因温差较大而引起的麻点缺陷,可以在预热时将各料饼之间留有一定的空隙来放置,使各料饼都能充分均匀受热。经验表明,在投料时先投中间料饼后投两端料饼,也会改善这种因温差较大而带来的缺陷。

(3)、预热机加热板高度不合理,也会引起受热不均匀,从而导致麻点的产生。这种情况多发生在同一预热机上使用不同大小的料饼时,而没有调整加热板的高度,使得加热板与料饼距离忽远忽近,以至于料饼受热不均。经验证明,它们之间比较合理的距离是3-5mm,过近或者过远均不合适。

4、封装成形冲丝及其对策

在封装成形时,EMC呈现熔融状态,由于具有一定的熔融黏度和流动速度,所以自然具有一定的冲力,这种冲力作用在金丝上,很容易使金丝发生偏移,严重的会造成金丝冲断。这种冲丝现象在塑封的过程中是很常见的,也是无法完全消除的,但是如果选择适当的黏度和流速还是可以控制在良品范围之内的。EMC的熔融黏度和流动速度对金丝的冲力影响,可以通过建立一个数学模型来解释。可以假设熔融的EMC为理想流体,则冲力F=KηυSinQ,K为常数,η为EMC的熔融黏度,υ为流动速度,Q为流动方向与金丝的夹角。从公式可以看出:η越大,υ越大,F越大;Q越大,F也越大;F越大,冲丝越严重。

要改善冲丝缺陷的发生率,关键是如何选择和控制EMC的熔融黏度和流速。一般来说,EMC的熔融黏度是由高到低再到高的一个变化过程,而且存在一个低黏度期,所以选择一个合理的注塑时间,使模腔中的EMC在低黏度期中流动,以减少冲力。选择一个合适的流动速度也是减小冲力的有效办法,影响流动速度的因素很多,可以从注塑速度、模具温度、模具流道、浇口等因素来考虑。另外,长金丝的封装产品比短金丝的封装产品更容易发生冲丝现象,所以芯片的尺寸与小岛的尺寸要匹配,避免大岛小芯片现象,以减小冲丝程度。)

5、封装成形开裂及其对策

在封装成形的过程中,粘模、EMC吸湿、各材料的膨胀系数不匹配等都会造成开裂缺陷。

对于粘模引起的开裂现象,主要是由于固化时间过短、EMC的脱模性能较差或者模具表面玷污等因素造成的。在成形工艺上,可以采取延长固化时间,使之充分固化;在材料方面,可以改善EMC的脱模性能;在操作方面,可以每模前将模具表面清除干净,也可以将模具表面涂上适量的脱模剂。对于EMC吸湿引起的开裂现象,在工艺上,要保证在保管和恢复常温的过程中,避免吸湿的发生;在材料上,可以选择具有高Tg、低膨胀、低吸水率、高黏结力的EMC。对于各材料膨胀系数不匹配引起的开裂现象,可以选择与芯片、框架等材料膨胀系数相匹配的

6、封装成形溢料及其对策

在封装成形的过程中,溢料又是一个常见的缺陷形式,而这种缺陷本身对封装产品的性能没有影响,只会影响后来的可焊性和外观。溢料产生的原因可以从两个方面来考虑,一是材料方面,树脂黏度过低、填料粒度分布不合理等都会引起溢料的发生,在黏度的允许范围内,可以选择黏度较大的树脂,并调整填料的粒度分布,提高填充量,这样可以从EMC的自身上提高其抗溢料性能;二是封装工艺方面,注塑压力过大,合模压力过低,同样可以引起溢料的产生,可以通过适当降低注塑压力和提高合模压力,来改善这一缺陷。由于塑封模长期使用后表面磨损或基座不平整,致使合模后的间隙较大,也会造成溢料,而生产中见到的严重溢料现象往往都是这种原因引起的,可以尽量减少磨损,调整基座的平整度,来解决这种溢料缺陷。

7、封装成形粘模及其对策

封装成形粘模产生的原因及其对策:A、固化时间太短,EMC未完全固化而造成的粘模,可以适当延长固化时间,增加合模时间使之充分固化;B、EMC本身脱模性能较差而造成的粘模只能从材料方面来改善EMC的脱模性能,或者封装成形的过程中,适当的外加脱模剂;C、模具表面沾污也会引起粘模,可以通过清洗模具来解决;D、模具温度过低同样会引起粘模现象,可以适当提高模具温度来加以改善。 8.结语

总之,塑封成形的缺陷种类很多,在不同的封装形式上有不同的表现形式,发生的几率和位置也有很大的差异,产生的原因也比较复杂,并且互相牵连,互相影响,所以应该在分别研究的基础上,综合考虑,制定出相应的行之有效的解决方法与对策。


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尊敬的各位新老客户:五一劳动节将至,按照国家法定节假日规定,结合公司实际情况,现就2017年五一放假安排通知如下:4月30日至5月1日放假,共2天;5月2日照常上班;同时为丰富员工生活,提升员工幸福感,4月30日至5月1日,思迈达组织全体旅游,目的地:江门下川岛,旅游期间无人值班,敬请谅解。在此,思迈达全体恭祝您和您的家人:五一节日快乐!特此通知。
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2017 - 03 - 07
值此三八妇女节来临之际,谨向辛勤工作在全公司各部门各岗位的女职工们致以衷心的节日问候!祝女职工们在新的一年里工作顺利,生活幸福,更加健康快乐!根据公司研究决定,三月八日下午女职工放假半天,请各部门的女职工做好工作安排。特此通知,祝所有女同志们节日快乐!
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9月7日,“OFweek2017(第十三届)中国先进激光技术及应用研讨会暨‘维科杯’年度评选颁奖典礼”在深圳成功举办。本次研讨会聚焦激光领域最新技术及应用,并邀请了行业内知名专家与企业代表出席会议,带来了精彩的主题演讲。思迈达应邀参加此次“2017中国先进激光技术及应用研讨会”和大家共同探讨激光产业未来发展方向和趋势。现场气氛活跃,观众与演讲嘉宾互动频繁,针对行业热点问题深入交流学习!在主题演讲环节,中国科学院上海光机所赵全忠教授首先带来“飞秒激光焊接玻璃”主题演讲。他认为,玻璃焊接被认为是焊接领域一大难题,这主要是由于激光能量很难被透明材料吸收,玻璃材料硬脆难于加工,另外热效应将影响玻璃通透性。相对于紫外激光焊接,由于飞秒激光的多光子吸收效应使得只在焦点位置发生反应,因此飞秒激光焊接正成为玻璃焊接的有效解决方案。飞秒激光焊接玻璃主要是通过将激光聚焦在玻璃连接处,通过调节飞秒激光脉冲能量及扫描速度等参数,在玻璃表面形成熔化效应从而使得玻璃焊接在一起。随着集成化发展,往往需要玻璃与半导体及金属等材料焊接,飞秒激光未来在这些焊接领域有望实现进一步突破。超连续谱光源具有高功率密度、宽的波谱范围、单模光束质量高、高可靠性及长寿命等特点,具有非常好的应用前景。中国科学院上海光机所赵全忠教授丹麦 NKT Photonics 公司中国区销售总监生卫东在“超连续谱光纤激光器技术及应用方向”主题演讲...
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2018 - 06 - 12
尊敬的客户及供应商朋友们:感谢您一直以来,对我司深圳市思迈达智能设备有限公司的信任和大力支持,因公司规模和业务不断扩张的需求,我司于2018年6月7日进行更名,请知悉,请按照以下信息更新贵司内部相关资料,因公司更名给您带来的不便,敬请谅解,谢谢!公司名称变更(地址、电话不变):名称:深圳市思迈达智能设备有限公司电话:0755-27858540   27857801
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